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芯片测试服务

更新时间:2015-11-03 17:21:44  点击次数:965次 打印
龙人集成电路技术全套服务包含专业芯片测试与分析,提供芯片设计过程中的配套测试,确保设计产品能顺利投入使用。

 一般来说,在芯片设计初期,工程师须对系统级芯片测试进行规划。龙人集成电路技术全套服务包含专业芯片测试与分析,提供芯片设计过程中的配套测试,确保设计产品能顺利投入使用。

我们引进了专业芯片测试与分析设备,如全自动探针测试台、集成电路针盘、芯片电路测试仪、芯片测试座、专用编程器、精密连接器,并引进了BC3152、JC3166、BC3168、TR6020、TR6050、JC3196A、BC3196D、JUNO DTS1000等数字、模拟、数模混合集成电路以及半导体分立器件测试系统,已成功测试的芯片产品包括红外遥控发射/接收电路、无线遥控发射/接收电路、电话机拨号解码专用芯片、电话机来电显示电路、石英钟/手表电路、微电子IC卡电路、照相机专用电路、LCD显示电路、打印机打印电路、机床控制计时电路、鼠标准用电路、音响用音频放大电路、只读储存器、低/高压报警电路、场效应管、静态储存器、LCD驱动电路、模拟开关、空调专用电路、游戏机专用电路等等。

尽管芯片尺寸在不断减小,但一个芯片依然可封装几百万个到上1亿个晶体管,测试模式的数目已经增加到前所未有的程度,从而导致测试周期变长,我们通过将测试模式压缩来解决,压缩比可以达到20%至60%,以实现高效测试。另外,面对现在大规模芯片设计,为避免出现容量问题,我们采用64位操作系统上可运行的测试软件进行测试,同时,随着设计容量的增大以及每个晶体管测试时间的缩短,我们采用同步测试方法,以找到与速度相关的问题并验证电路时序。

可以测试的器件有:EPROM(27系列)、并行和串行EEPROM(24 93 25系列)、 串行PROM、FLASH存储器(NOR 和NAND)(29 39 37 49 28系列)、BPROM、NVRAM、SPLD、CPLD、EPLD、单片机、MCU。

可测试IC品牌:AMD、SST、INTEL、AMIC、WINBOND、ALTERA、ATMEL、HOLTEK、CATALYST 、CHIPCON、DALLAS、FUJITSU、MICRON、MOTOROLA、ICT、NAND FLASH:SAMSUNG(K9F5608U,K9F2808U,K9F6408U),TOSHIBA…(目前可支持185个厂家30000多 种器件。)

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