一般来说，在芯片设计初期，工程师须对系统级芯片测试进行规划。龙人集成电路技术全套服务包含专业芯片测试与分析，提供芯片设计过程中的配套测试，确保设计产品能顺利投入使用。
    我们引进了专业芯片测试与分析设备，如全自动探针测试台、集成电路针盘、芯片电路测试仪、芯片测试座、专用编程器、精密连接器，并引进了BC3152、JC3166、BC3168、TR6020、TR6050、JC3196A、BC3196D、JUNO DTS1000等数字、模拟、数模混合集成电路以及半导体分立器件测试系统，已成功测试的芯片产品包括红外遥控发射/接收电路、无线遥控发射/接收电路、电话机拨号解码专用芯片、电话机来电显示电路、石英钟/手表电路、微电子IC卡电路、照相机专用电路、LCD显示电路、打印机打印电路、机床控制计时电路、鼠标准用电路、音响用音频放大电路、只读储存器、低/高压报警电路、场效应管、静态储存器、LCD驱动电路、模拟开关、空调专用电路、游戏机专用电路等等。
    尽管芯片尺寸在不断减小，但一个芯片依然可封装几百万个到上1亿个晶体管，测试模式的数目已经增加到前所未有的程度，从而导致测试周期变长，我们通过将测试模式压缩来解决，压缩比可以达到20%至60%，以实现高效测试。另外，面对现在大规模芯片设计，为避免出现容量问题，我们采用64位操作系统上可运行的测试软件进行测试，同时，随着设计容量的增大以及每个晶体管测试时间的缩短，我们采用同步测试方法，以找到与速度相关的问题并验证电路时序。
    可以测试的器件有：EPROM(27系列)、并行和串行EEPROM（24 93 25系列）、 串行PROM、FLASH存储器（NOR 和NAND）（29 39 37 49 28系列）、BPROM、NVRAM、SPLD、CPLD、EPLD、单片机、MCU；